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更新時(shí)間:2026-02-03
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近日,德雷射科成功中標(biāo)航空航天大面積AM0空間光譜多段可調(diào)太陽光模擬器,標(biāo)志著公司在航天測(cè)試裝備的研發(fā)與交付能力再獲認(rèn)可。該項(xiàng)目將用于支持航天器部件在近地空間外太陽光譜環(huán)境下的地面驗(yàn)證,為提升我國(guó)航天器在軌可靠性與性能提供堅(jiān)實(shí)保障。

自2020年起,德雷射科就已前瞻性布局航天測(cè)試領(lǐng)域,依托在光電測(cè)試與自動(dòng)化技術(shù)的深厚積累,逐步構(gòu)建起覆蓋“芯片—子串—帆板"全鏈條的航天級(jí)測(cè)試解決方案。時(shí)至今日,公司已完成從航天芯片、子串到整片帆板的多層次、全流程測(cè)試設(shè)備交付,為航天器能源系統(tǒng)的可靠性與安全性保駕護(hù)航。

一、芯片級(jí)測(cè)試:

在航天器太陽能系統(tǒng)中,芯片是能量轉(zhuǎn)換的最小單元,其性能直接影響整個(gè)能源系統(tǒng)的效率與壽命。德雷射科針對(duì)航天芯片推出的全功能測(cè)試系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)多項(xiàng)關(guān)鍵參數(shù)的自動(dòng)化測(cè)量與分選,包括:
IV測(cè)試:精確獲取電流-電壓特性曲線,評(píng)估光電轉(zhuǎn)換效率
EL測(cè)試:檢測(cè)芯片內(nèi)部缺陷、隱裂及工藝一致性
PL測(cè)試:用于材料質(zhì)量分析與能帶結(jié)構(gòu)評(píng)估
AOI測(cè)試:對(duì)外觀缺陷進(jìn)行快速、精確的自動(dòng)化檢測(cè),確保芯片表面質(zhì)量
二極管特性測(cè)試:驗(yàn)證芯片在太空環(huán)境下的電氣可靠性
膜厚與重量測(cè)試:實(shí)現(xiàn)非接觸式厚度測(cè)量與高精度稱重,支持工藝反饋與質(zhì)量控制
自動(dòng)分選:依據(jù)測(cè)試結(jié)果對(duì)芯片進(jìn)行分級(jí),確保符合航天應(yīng)用的高標(biāo)準(zhǔn)要求
二、子串級(jí)測(cè)試:

子串是由多個(gè)芯片通過互聯(lián)技術(shù)組成的基本發(fā)電單元,其整體性能與一致性至關(guān)重要。德雷射科子串測(cè)試系統(tǒng)專注于:
IV性能測(cè)試:評(píng)估子串整體輸出特性與功率表現(xiàn)
EL成像檢測(cè):快速定位失效芯片、焊接缺陷或電路連接問
該系統(tǒng)可無縫對(duì)接產(chǎn)線,實(shí)現(xiàn)高通量、高一致性的測(cè)試流程,為后續(xù)帆板集成奠定可靠基礎(chǔ)。
三、帆板級(jí)測(cè)試:

太陽能帆板是航天器能源系統(tǒng)的核心組成,必須在模擬太空實(shí)際工況的條件下進(jìn)行充分驗(yàn)證。德雷射科帆板級(jí)測(cè)試設(shè)備具備全面的環(huán)境與性能驗(yàn)證能力,主要包括。
IV特性測(cè)試:全面評(píng)估帆板發(fā)電功率及輸出穩(wěn)定性
EL全景檢測(cè):對(duì)大尺寸帆板進(jìn)行全幅面缺陷掃描
高低溫環(huán)境測(cè)試:支持在設(shè)定的高溫與低溫條件下,檢驗(yàn)帆板的熱適應(yīng)性及性能表現(xiàn)
多倍光強(qiáng)測(cè)試:支持在多種標(biāo)準(zhǔn)光強(qiáng)條件下,驗(yàn)證帆板的性能輸出
該系列設(shè)備旨在為航天器太陽能帆板的地面驗(yàn)證提供完備的測(cè)試手段,確保其滿足嚴(yán)苛的太空應(yīng)用要求
從芯片到子串,從子串到帆板,德雷射科逐步構(gòu)建起航天太陽能測(cè)試領(lǐng)域的完整產(chǎn)品矩陣。每一步,都凝聚著對(duì)精度與可靠性的執(zhí)著追求;每一款設(shè)備,都承載著助力中國(guó)航天邁向星辰大海的初心。

未來,德雷射科將繼續(xù)深耕光電測(cè)試領(lǐng)域,以創(chuàng)新技術(shù)、航天級(jí)品質(zhì)和恪守承諾的原則,為商業(yè)航天、深空探測(cè)等更多前沿場(chǎng)景,提供值得信賴的測(cè)試保障。
德雷射科——精準(zhǔn)測(cè)試,護(hù)航航天。
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